资料的镀层厚度是一个重要的出产的根本工艺参数，其选用的原料和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐的才能、打扮润饰的效果、导电性、产品的可靠性和惯例运用的寿数，因而，镀层厚度的操控在产品质量、进程操控、本钱操控中都发挥着及其重要的效果。英飞思开发的

  8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层资料成分剖析和镀层厚度测定。其主要长处是精确，快速，无损，简略易操作，丈量速度快。可一起剖析多达五层资料厚度，并能对镀层的资料成分进行快速判定。

  8000T Plus是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第2次X射线的强度来丈量镀层等金属薄膜的厚度，由于没有触摸到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品形成丢失损坏。一起，丈量的也可以在10秒-30秒内完结。

  CCD摄像机来调查及挑选定位细小面积镀层厚度的丈量，防止非直接触摸，污染或损坏被测物。软件装备间隔补正算法，完成了对不规则样品（如凹凸面，螺纹，曲面等）的异型件的精准测验备有多种以上的镀层厚度丈量和成分剖析时所需的规范样品

  8000T Plus镀层测厚仪可以适用于PCB镀层厚度丈量，金属电镀镀层剖析；丈量的目标包含镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

  EDX8000T Plus可剖析的常见镀层资料可测验重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。