在现代工业制作与资料科学研究中，薄膜资料的厚度操控至关重要。无论是柔性电子、光学镀膜、包装资料仍是新能源电池隔阂，其功用往往高度依赖于厚度的一致性与精确度。为满意这一需求，高精度测厚设备成为质量操控的中心东西。其间，凭仗其0.1微米（μm）的超高分辨率和安稳牢靠的丈量功用，已成为很多高端制作范畴的首选设备。

  CHY-02H选用触摸式机械测微原理，经过高精度位移传感器合作安稳测力体系，对被测薄膜施加规范压力后进行厚度读取。该办法防止了光学测厚易受通明度、折射率或外表反射率影响的问题，十分适合于非通明、多层复合或外表粗糙的薄膜资料。最小显现分辨率达0.1 μm，丈量重复性差错一般优于±0.2 μm，彻底满意ISO 4593、ASTM D645等国际规范对薄膜厚度测验的要求。

  0.1 μm超高分辨率：CHY-02H可以明晰分辨出0.1微米的厚度改变，这关于纳米级功用涂层、锂电池隔阂（一般厚度在9–25 μm之间）等要害资料的质量监控具有决定性含义。

  恒压测头规划，维护样品：仪器装备符合规定规范要求的测压（一般为20 kPa或可调），既保证丈量一致性，又防止因压力过大导致软质薄膜变形，保证数据实在反映资料原始状况。

  智能操作与数据管理：装备五颜六色触摸屏界面，支撑一键丈量、主动归零、数据存储及统计分析（如最大值、最小值、平均值、规范偏差等）。部分类型还支撑USB/RS232接口，便于衔接PC进行批量数据导出与SPC进程操控。

  广泛适用性：可丈量塑料薄膜、纸张、铝箔、橡胶片、复合包装资料、光伏背板、OLED基材等多种柔性片状资料，厚度规划一般掩盖0–2 mm，满意绝大多数工业使用场景。

  CHY-02H薄膜测厚仪以其0.1 μm的高精度、安稳牢靠的机械结构和用户友爱的智能化操作，为薄膜资料的质量操控供给了坚实的技能支撑。

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